正达原创TST方案


 

   

    早期电路测试仪的测试频率很低,一般在50kHz以下,改变测试频率对数字器件功能测试结果不会产生任何影响。数字器件功能测试结果只存在两种状态:

    1.能够通过功能测试(器件基本功能正确)。

    2.不能通过功能测试(器件基本功能故障)。

    如果大幅度提高数字器件功能测试的测试频率,器件是否依然能够通过功能测试,输出正确的测试结果?

    第三代ZD9610测试仪将数字器件功能测试的测试频率大幅度提高到2000kHz.实测发现:虽然数字器件在《器件手册》中给出的工作频率多在几十MHz左右,但是绝大部分数字器件无法在  2000kHz测试频率时输出正确结果。只有降低测试频率,有些类型数字器件甚至要大幅度降低测试频率,才能够通过功能测试。

    这样就出现了第三状态(Third state).第三状态是指:在某个特定测试频率之上,基本功能正确的器件却无法通过功能测试的状态。

    新型正达测试仪数字器件功能测试结果的三种状态:

    1.不能通过功能测试(在某测试频率之上/器件基本功能正确)。

    2.能够通过功能测试(在某测试频率之下/器件基本功能正确)。

    3.始终不能通过功能测试(所有测试频率/器件基本功能故障)。


    集成电路工作速度下降,是器件综合性能下降的集中体现。各种器件参数故障都会表现为集成电路工作速度下降。包括:器件单纯性的工作速度下降,器件其它参数故障引起的工作速度下降等。

    器件逻辑功能测试一般称为功能测试或者静态测试。对器件速度/时间特性测试一般称为性能测试或者动态测试。第三状态就属于后者这个范畴。

    第三状态的验证表明:器件对高频测试信号的正确响应能力与自身工作频率相对应。即:器件工作频率越高,速度越快,所能通过功能测试的测试频率也越高。因此,第三状态的出现能够反映出器件的实际工作速度情况。相同功能型号的器件,如果能够通过功能测试的测试频率越高,则其速度越快,其性能越好。反之,能够通过功能测试的测试频率越低,则其速度越慢,其性能也就越差。

    基于第三状态的特点,现已形成独立的测试形式。英文简称:TST(Third State Test).成为简单有效的疑难故障解决方案。

    应用第三状态TST方案,能够测试器件对高频测试信号的正确响应能力,测试器件动态性能。区分器件工作速度,区分器件动态性能差异。


   详见:本产品功能简介。

2015年10月19日

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40脚以上IC功能测试

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高速PCI卡接口方式

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