正达电子元器件综合检测仪系列论文】



电子元器件筛选专业设备——ZD720元器件综合检测仪




    (【正达电子元器件综合检测仪系列论文】)ZD720型元器件综合检测仪可对各种电子元器件进行功能/参数/性能检测,用于元器件二次筛选工作。只需一台ZD720型元器件综合检测仪,即可解决各种元器件的检测筛选难题。




ZD720元器件综合检测仪工作状态




    电子元器件在加工制造后,首先会经过制造厂家的成品筛选,即第一次筛选。正式投入使用之前,用户单位还会进行元器件二次筛选。实践表明:元器件的失效率(y轴)与时间(x轴)的关系曲线呈现出中间段较长且低平(使用寿命期)两头升高(早期失效期和耗损失效期)的浴盆形状,简称:浴盆曲线。元器件二次筛选是一项非常重要的工作,目的是将存在早期失效隐患的元器件及时清除出去,提前进入元器件的使用寿命期,从而保证产品的可靠性和耐用性。


    元器件二次筛选的项目比较多,筛选方法也并不唯一。例如:外观检查、高温存贮、老炼试验、参数检测等。ZD720型元器件综合检测仪筛选项目是元器件的功能/参数/性能。由于能够提供多种而不是单一检测方法,能够对各种元器件而不是单一品种元器件进行检测,能够提供丰富的检测辅助工具和手段,所以称为综合检测仪。


    多种检测方法体现在能对各种IC和分立元件等通过专用测试程序进行功能检测、参数检测以及性能检测。例如:对>40管脚数字IC功能检测,对数字IC检测高频性能,区分模拟运放参数特性,对晶体管、阻容器件定量分析等,可分门别类建立大量元器件筛选库。测试程序有数万种之多,提供自行扩充测试程序功能。在对整机质量要求很高的应用场合,数字IC高频性能以及模拟IC参数特性等尤为重要,合规但非最佳的元器件也是二次筛选过程中的清除对象。


    能够检测各种元器件源自于VI曲线测试这种最为通用的检测方法。VI曲线测试通过对各种元器件管脚端口进行检测,建立标准曲线,构建筛选模型,应用简单,适用范围广泛。异常的特性曲线,均与元器件在制造工艺和存储运输等环节上的某些缺陷或疏漏存在一定的内在联系。不符合筛选模型特征将严重影响元器件的可靠性,必须及时清除。


    提供丰富的检测辅助工具和手段体现在对表贴式多管脚大规模IC以及表贴式分立元件的便捷检测等方面。主要涉及开发专用测试程序、提供丰富的可扩展的元器件测试夹具等。甚至对于那些未拆解包装的表贴阻容器件,也提供了很巧妙的检测手段,在无需拆解包装的情况下即可快速连续测试。


    ZD720型元器件综合检测仪具有80路数字通道/160路VI曲线通道/28路模拟功能通道,多路扩展端子检测通道以及有针对性的测试程序和筛选手段。能够针对某类元器件特定失效模式专门构建具体型号的筛选模型,从而建立大量元器件筛选库。每个环节更专业也更高效,具有极高的应用价值。


    元器件二次筛选检测方法是一个不断发展的课题,实现更有效/更可靠/更安全/更便捷的元器件功能/参数/性能检测,是ZD720型元器件综合检测仪的长期目标和努力方向。


2017年11月20日

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