集成电路短路/击穿测试

[节选自2020版《ZD4040-N测试仪操作手册》第5章_短路/击穿测试项]


   

    测试IC管脚对地短路和相互间短路问题,除ZD4040-N测试仪能够对器件库中数字IC做自身连接测试外,对任何IC普遍适用的方法是:VI曲线交叉测试。(VI曲线交叉测试,国外产品称:VI曲线矩阵测试。)

    VI曲线交叉测试项有很多优势,但在用作处理IC管脚对地短路和相互间短路问题时,却存在测试过程耗时长,动辄提取上千条VI曲线。测试结果不量化,需要经过人为主观判断等明显缺点。

    ZD4040-N测试仪的集成电路短路/击穿测试项,可快速/直接/量化测试IC管脚之间的短路/击穿问题,对任何IC(数字/模拟/模数混合/各种封装形式等)都适用。尤其对IC管脚的软击穿问题,直接给出量化结果。同时支持通道测试,适合于电路板整板测试。

    测试方式:能够采用各种规格的IC测试夹、IC离线测试板/盒(IC插座)、测试排缆和自制测试信号线以及测试工装等。


测试实例1_集成电路短路/击穿测试:

    以对40管脚D8255AC接口IC短路/击穿测试为例。

    从测试仪接地端子(COM端)引线接到被测电路板地线上。采用40管脚DIP测试夹夹取器件。输入管脚数“40”,按“开始检测”按钮(图1)。


图1


    结果说明:D8255AC管脚7对地短路。这是正常的,管脚7是D8255AC的接地脚。管脚26/27之间≦1Ω,出现短路。这是严重故障,因为管脚26是D8255AC的电源管脚,不允许和管脚27短路。

    如果ZD4040-N测试仪对这个D8255AC采用VI曲线交叉测试,全数交叉测试提取40×40=1600条VI曲线。测试完毕,会显示40组/80屏(20线/屏)共计1600条VI曲线,分别是以管脚1,管脚2,管脚3,管脚4...管脚40作为测试参考点。查看VI曲线的工作量大,整个过程耗时长。测试结果不量化,主观判断因素多。和集成电路短路/击穿测试项相比,劣势明显。


测试实例2_测试通道短路/击穿测试:

    以对电路板上40个结点短路/击穿测试为例。

    采用40根自制测试信号线从测试仪电缆插座中引出。分布在电路板的40个结点上。不同于采用集成器件方式输入IC管脚数后,系统能够自动排序管脚号。当采用测试通道方式时,为方便使用者自行引线,规定:第1组测试插座左上1为1通道,左下1为2通道。左上2为3通道,左下2为4通道...以此类推。

    被测电路板应和测试仪共地。输入管脚数“40”,测试阈值从低到高逐级测试(图2)。


图2


    结果说明:电路板上这40个结点中,没有结点直接接地。没有结点相互短路。测试通道13/28/30指示的结点之间,存在≦10kΩ范围的软击穿特性。


总结:

    集成电路短路/击穿测试项,对任何IC都适用。相较于VI曲线交叉测试而言,测试速度快得多,几乎瞬时完成。测试结果明确量化,避免人为主观判断。还支持针对电路板上结点的通道测试,应用方式灵活多样。


2020年05月20日

※正达在线集成电路测试仪:进阶的数字集成电路在线功能测试

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