正达VI曲线测试仪VI检测仪：【2020版】VI曲线测试

【正达VI曲线测试仪/VI曲线检测仪论文】

 

 

VI曲线测试

[节选自2020版《ZD4040-N测试仪操作手册》第4章_VI曲线测试项]

 

 

摘要：VI曲线测试具有精确高效、简单安全、普遍适用和操作灵活等突出特点，是电路维修和器件检测的重要测试手段。伴随VI曲线测试技术不断改进，优势更加巨大。VI曲线测试也存在“测试盲区”，会陷入“测试误区”，在检测中应加以注意。

关键词：VI曲线；单地；交叉；N点；坐标系；5cVI曲线

 

1  VI曲线测试

    在电路2个结点之间（或器件两管脚之间）施加1个一定幅度和频率的周期信号（图1左），从而在显示坐标上形成一条电流随电压变化的函数曲线。即：VI曲线（图1右）。

    VI曲线形状由被测结点之间的阻抗特性所决定。例如：电阻两端VI曲线是一条经过坐标原点的直线（图1右蓝线）。二极管两端VI曲线是PN结反向截止/正向导通特性的反映（图1右红线）。

 

图1  VI曲线测试原理图

 

    器件故障通常出现管脚之间阻抗特性改变，通过比较好、坏电路板（或器件）相同结点之间VI曲线，能够发现阻抗特性发生改变的结点，从而确定出现故障的具体器件。直接观察或两者对比VI曲线的过程，称作：VI曲线测试。适用于电路板维修和元器件检测。

    VI曲线测试不属于器件功能测试，无须施加测试电源，无须编写测试程序。操作过程既安全，又简单。VI曲线测试是针对器件管脚阻抗特性，对绝大多数器件都适用，不受器件种类、封装形式等条件限制。测试工具可采用IC测试夹、IC测试插座和VI探针，还可自制专用VI曲线测试线或测试工装等进行整板测试。

    VI曲线测试在测试效率、测试信息量、信息综合处理分析等方面，极大地优于万用表等针对器件管脚阻抗特性测试的其它工具（图2）。

 

图2  ZD4040-N测试仪VI曲线测试主界面

 

2  VI曲线学习（建库）

    VI曲线学习是存储好电路板上结点之间或好器件管脚之间VI曲线，建立数据库，作为VI曲线比较（检测）的标准。

 

2.1  建库方式：

    可采用多种规格IC测试夹（图3左）、多种规格IC测试插座（图3中）和VI探针（图3右），以及自制专用VI曲线测试线或测试工装整板测试。

 

图3  VI曲线测试的主要测试方式

 

2.2  VI曲线单地测试：

    从ZD4040-N测试仪的接地端子（COM端）引线，接到被测电路板地线（或器件接地管脚）上，以地（或其它某一个点）作为VI曲线测试参考点。所测各点VI曲线都是被测点同该固定参考点之间特性阻抗的反映。

 

①测试夹建库：

    单地参考模式建库，可提取IC各个管脚对某一个参考点之间的VI曲线。需要连接测试参考点。

    假设IC管脚数为n，单地参考模式提取VI曲线总数为：

    单地参考=n

    以学习某20管脚数字IC的VI曲线为例。如果被测IC多于20管脚，可按“下/上一屏曲线”前后浏览。按“刷新全屏”，可重测本屏的20条VI曲线；小窗口右下角处“R”按钮，可重测小窗口中VI曲线；“O”按钮，放大显示小窗口；“S”按钮，可独立设置小窗口中VI曲线测试参数（图4）。

 

图4  测试夹单地参考建库方式

 

②VI探棒建库：

    对无法使用测试夹的IC、分立元件、电路结点等，可选用VI探针逐点建库和比较。需要连接测试参考点。

    建库/比较窗口分为“普通测试”和“定时测试”。采用定时测试不用看电脑屏幕，依据声音提示测试。可一手持VI探针，一手持放大镜，只专注于测试精密IC的各个管脚，轻松从容。

    建库/比较窗口有“起始管脚”和“结束管脚”选项。可暂停/查阅/存储。测试多管脚IC时，无须一气呵成学习/比较完整个IC，可一次只学习/比较任意一边管脚或更少。并可随时暂停，再重新设置起始管脚继续测试。能够随时存储，多次退出再进入。学习过程中没有学习好的管脚，事后可在“查阅”功能里单独修改。

    以上介绍的VI探棒建库/比较便捷测试方式，也称之为：VI曲线定时测试和VI曲线智能存储（图5）。

 

图5  VI探棒单地参考建库方式

 

2.3  VI曲线交叉测试：

    交叉参考模式建库，可自动提取IC任意两管脚之间的VI曲线。无须连接测试参考点。

    假设IC管脚数为n，交叉参考模式提取VI曲线总数为：

    递减交叉参考=n×（n–1）/2

    全数交叉参考=n×n

    形象地说，递减交叉是IC任意两管脚之间只单向测试一次VI曲线，全数交叉是IC任意两管脚之间正向、反向各测试一次VI曲线。（VI曲线交叉测试，国外产品称：VI曲线矩阵测试。）

    以40管脚D8255AC接口IC为例。递减交叉提取40×（40–1）/2=780条VI曲线，全数交叉提取40×40=1600条VI曲线。测试完毕，会显示40组/80屏共计1600条VI曲线，分别是以管脚1,管脚2,管脚3,管脚4...管脚40作为参考点。

    除对某一个测试参考管脚外，采用VI曲线单地测试，无法发现IC各个管脚相互之间的故障。采用VI曲线交叉测试则优势明显。例如：D8255AC的管脚26是其电源管脚，实测中当以管脚26为参考点时，管脚27也为短路线。管脚27在线和电源短路是明显故障点（图6）。

 

图6  测试夹交叉参考建库方式

 

2.4  VI曲线N点交叉测试：

    N点交叉参考模式建库，可任意指定1~12个管脚分别作为参考点，提取IC各管脚分别对各参考管脚的VI曲线。无须连接测试参考点。可大幅去除无效数据，减小数据库尺寸，提高测试速度。

    假设IC管脚数为n，N点交叉参考模式提取VI曲线总数为：

    N点交叉参考=n×N

    IC管脚之间形成的VI曲线，也是判断IC故障的重要依据。但有些IC管脚之间没有阻抗特性联系，全是水平开路形式的VI曲线，产生许多无效数据。另外，对数字IC的接地管脚和电源管脚做VI曲线单地参考测试，是判断IC故障简便常用的手段。如果没有VI曲线N点交叉参考，需要分别以IC接地管脚和电源管脚为参考点，进行2次VI曲线单地测试，存储2个文件。采用VI曲线N点交叉参考测试，操作得到简化。

    还是以40管脚D8255AC接口IC为例。离线对D8255AC管脚7/26单地测试，需要分别以管脚7（接地脚）和管脚26（电源脚）为参考点测试2次，存储2个文件。而采用N点交叉测试，可指定管脚7和26作为2个测试参考点（图7）。

 

图7  测试夹N点交叉参考建库方式设置界面

 

    对D8255AC管脚7/26做N点交叉测试，VI曲线总数从40组/80屏共计1600条VI曲线减少到2组/4屏共计80条VI曲线，去除许多无效数据，建立VI曲线优质数据库。再配合ZD4040-N测试仪中的“集成电路短路/击穿检测”功能项，测试更加简洁和完备（图8）。

 

图8  测试夹N点交叉参考建库方式

 

2.5  VI曲线N点共地测试：

    N点共地参考模式建库，可任意指定1~12个管脚同时作为参考点，提取IC各管脚同时对各参考管脚的VI曲线。无须连接测试参考点。有些IC只有采用这种测试模式，建库时才能获得稳定的VI曲线。

    假设IC管脚数为n，N点共地参考模式提取VI曲线总数为：

    N点共地参考=n

    以离线单地测试ADC0804（20管脚8位模数转换器，管脚10作为参考点）为例。VI曲线形状不理想（图9）。

 

图9  测试夹单地参考建库方式出现不稳定曲线

 

    ADC0804的管脚10是数字地，管脚8是模拟地，VI曲线实测中应以管脚8/10共同作为参考点，VI曲线形状理想稳定（图10）。实测中，有些IC需要将接地脚和负电源脚做N点共地测试；有些IC需要将接地脚和正电源脚做N点共地测试；有些IC需要将数字地和模拟地脚做N点共地测试。

 

图10  测试夹N点共地参考建库方式消除不稳定曲线

 

2.6  VI曲线建库IC各个管脚测试参数独立设置：

    IC芯片（或VI探棒提取的各个测试点）建库时，能够以各个管脚最能反映每个管脚特征的测试参数（阻抗中值/扫描幅度/结点类型/扫描波形）建库。各个管脚的测试参数不再必须是统一的，可缤纷设置。适用于：IC测试夹、IC测试插座和VI探针以及自制专用VI曲线测试线或测试工装等全部测试方式。

    例如：采用IC测试夹方式，在1kΩ坐标系（阻抗中值）下对20管脚MC68B50芯片以管脚1为参考点（管脚1为Vss负电源）单地参考模式建库。管脚5和管脚6的VI曲线同其它管脚VI曲线略有差异，表现为正电压区段VI曲线略有上扬（图11）。

 

 

图11  管脚5和管脚6的VI曲线不处于最佳建库效果

 

    按管脚5小窗口下“S”按钮，调整为10kΩ坐标系，刷新VI曲线。正电压区段VI曲线接近45度线区域最佳显示范围，便于对比测试时观察VI曲线形状或位置的细微变化。对管脚5/6的VI曲线分别单独调整设置后，VI曲线数据库性能更高（图12）。

 

图12  管脚5单独调整设置后VI曲线处于最佳建库效果

 

    VI曲线比较（检测）时，直接自动以建库时的VI曲线缤纷设置完成测试。可消除VI曲线测试盲区。

 

3  VI曲线比较（检测）

    把故障电路板（或器件）各个结点之间VI曲线同VI曲线数据库比较，找出VI曲线存在差异的故障点。

 

3.1  测试夹比较（检测）：

    以IC测试夹单地参考模式比较VI曲线为例，比较被测IC和数据库VI曲线差异。可见：被测IC管脚7对参考点（电路板的地线）短路，是明显的故障点（图13）。

 

图13  测试夹单地参考比较方式

 

3.2  VI探棒比较（检测）：

    以探针方式比较VI曲线为例，也分为普通测试和定时测试。普通测试时可逐点查看比较结果，定时测试适于测试精密管脚IC，实现不抬头比较。若实测和已学VI曲线相符，电脑会发出“嘀”的一声单音提示。若不相符，测试完成后电脑发出“嘀嘀”两声提示，暂时终止测试。屏幕提示选择“重新测试”、“忽略本脚”或者“终止测试”。同样支持设置“起始管脚”和“结束管脚”选项。可随时“暂停”测试（图14）。

 

图14  VI探棒单地参考比较方式

 

3.3  VI曲线双标准比较（检测）：

    VI曲线比较时，如果IC某一管脚或某些管脚的VI曲线与VI曲线数据库不相符，但又已知这个IC无故障，可将现在的IC实测VI曲线存储为数据库中的参考VI曲线，增添一个新标准。这样，可避免将一种型号IC建立多个数据库。

    以单地参考模式离线比较20管脚74LS373的VI曲线为例。所测IC的VI曲线和数据库不相符（图15）。已知该IC为也是无故障器件，仅为厂家生产不同。为方便以后比较，可将这个IC的VI曲线存储为“参考VI曲线”，将数据库存储为双标准。

 

图15  增加存储一组参考VI曲线测试标准

 

    VI曲线比较时，默认首先与数据库中的标准VI曲线进行比较。如果不匹配，可再与参考VI曲线比较（图16）。

 

图16  以参考VI曲线测试标准做比较

 

    也可将典型故障VI曲线存储为参考VI曲线。某IC如果与标准VI曲线不匹配，与参考典型故障VI曲线相匹配，则该IC可完全断定是故障器件。

 

 

4  VI曲线测试的其它用法和注意事项

 

4.1  VI曲线测试在模拟IC型号识别问题上的应用

    通过VI曲线测试构建的疑难器件离线特性测试项，重点突出对疑难IC型号识别。这是第二代ZD9001测试仪于1998年首先实现，是国内外业界在测试方法和测试技术方面的重要原始创新。

    疑难器件离线特性测试项系统中，预先存有比较器、放大器、AD转换器、DA转换器、其它各类等5个疑难器件系统库。系统库中存有模拟器件和其它类型器件的标准VI曲线数据库，可用于对疑难器件直接离线特性测试，也可用于型号识别。

    疑难器件离线特性测试项还可建立属于用户自己的专有疑难器件库，不少正达用户存储了数千种器件。随测随存，越来越多。可用于对各种器件的快速VI曲线测试，可对非数字的疑难IC器件进行型号识别。

    对疑难器件离线特性测试项本文不单独介绍。若想进一步了解，请见《ZD4040-N测试仪操作手册》疑难器件离线特性测试项章节，或参考《疑难器件型号识别》一文。

 

4.2  VI曲线测试的注意事项

    在线比较VI曲线，如果发现某器件管脚VI曲线好、坏不一致，不一定是当前所测器件出现故障。因为这个管脚在线可能还连接了其它器件，其它器件故障也会在测试这个管脚时体现出来。所以在线比较VI曲线时要形成结点意识，是VI曲线不一致管脚所处的结点回路有问题，需要围绕这个结点进一步排查。

    在线比较VI曲线时，要注意是否存在以下一些容易疏忽的情况，以免误判。<01>好、坏电路板上如果有开关或跳线，它们的状态是否一致；<02>好、坏电路板有没有缺器件或局部电路不一致的情况，板上的器件是否完全相同；<03>坏电路板是否更换过器件，更换上去的器件同原先器件是否完全相同；<04>虽然IC型号相同，是否器件生产厂家不相同等。

    离线比较VI曲线时，如果发现某管脚的VI曲线好、坏不一致，通常存在故障。但某些型号、功能完全一致，但生产厂家不同的IC，VI曲线也会存在一定差别，比较VI曲线时极容易误判。最好应保证被测器件型号一致，生产厂家相同。因此，要习惯应用VI曲线双标准比较。

    对于没有数据库可供对比的单独IC，比较IC各个同性质管脚（地址端、数据端、正/反输入端、正/反输出端等）对地管脚/电源管脚的VI曲线（单地测试或N点交叉测试），也可有效发现IC故障管脚。这是VI曲线灵活测试的重要方式之一。

 

5  VI曲线探棒巡检

    VI曲线探棒巡检测试可动态显示管脚结点之间的VI曲线，自动刷新，高清显示（支持512点/周期）。适合于对分立元件较多的电路板或不便于用测试夹夹取的表贴IC做逐点动态测试。

 

5.1  进入方式：

    VI曲线探棒巡检设置窗口，有2种进入方式。

    ①方式1：从工作模式处选择“VI曲线探棒巡检”操作进入。

    ②方式2：从系统软件主窗口上端一排快捷键中的“VI曲线探针图标”进入。

    可同时开启2个VI曲线探棒巡检设置窗口。每个VI曲线探棒巡检设置窗口可独立设置测试参数。因此，可同时打开2个VI曲线探棒巡检测试窗口。支持1个人同时使用2个测试窗口。或者2个人各自使用1个测试窗口，即2人同时各自做VI曲线探棒巡检测试。

 

5.2  基本操作：

    ①单探棒测试：用测试钩将被测板或器件和测试仪共地。从工作模式处或主窗口上端快捷键图标进入VI曲线探棒巡检设置窗口。在“曲线提取工具类型”处选择VI探棒1（或探棒2），进行VI曲线单探棒巡检。或采用一支探棒1（或探棒2），将另一支VI探针插入接地端子（COM端）作为活动参考点。这样可随时察看器件两端的VI曲线。

    ②双探棒测试：用2个测试钩将2块被测板（或2个器件）和测试仪共地，从工作模式处或主窗口上端快捷键图标进入VI曲线探棒巡检设置窗口。在“曲线提取工具类型”处选择双探针，进行VI曲线双探棒巡检对比测试。

    ③双窗口操作：从工作模式处进入一个VI曲线探棒巡检设置窗口，在“曲线提取工具类型”处选择VI探棒1，接出一支探棒1（对比测试时可选双探针）。从主窗口上端快捷键图标进入另一个VI曲线探棒巡检设置窗口，在“曲线提取工具类型”处同样选择VI探棒1（对比测试时可选双探针）。对两个设置窗口可选择不同设置。例如：设置窗口1选择100Ω坐标系，设置窗口2选择10kΩ坐标系。VI曲线测试窗口被拆分成不同设置双窗口VI曲线。

    ④双人同时测：从工作模式处进入一个VI曲线探棒巡检设置窗口，在“曲线提取工具类型”处选择VI探棒1，接出一支探棒1。从主窗口上端快捷键图标进入另一个“VI曲线探棒巡检”设置窗口，在“曲线提取工具类型”处选择VI探棒2，接出一支探棒2。其它VI曲线测试设置任意。两个人可同时各自做VI曲线单探棒巡检测试。

 

5.3  5cVI曲线鹰爪5线测试法：

    阻抗中值（坐标系）：能够单选/组合/全选。即：正达首创的克服VI曲线两轴测试盲区的5cVI曲线鹰爪5线测试法（简称：5cVI曲线）。5cVI曲线是电压/电流/阻抗3维度VI曲线测试。

 

5.4  5cVI曲线单独测试电路结点：

    单独测试电路结点时，一个5cVI曲线窗口中同时出现5种不同色彩代表5种阻抗中值（坐标系）的VI曲线，相当于将5种坐标系叠加成一个窗口。5种坐标系可单选、自由组合叠加或5种全部叠加。能够充分表现结点特征，不会隐藏淹没并联在电路结点上的任何器件。无论结点特征出现在哪个阻抗区域，5cVI曲线始终都能够保证必然有1条VI曲线（1种坐标系）处于最高灵敏度。

    例如：在1kΩ坐标系下单独测试电路结点，只表现为一个100Ω电阻的VI曲线。有时这不一定只是一个电阻（图17左）。而采用5cVI曲线测试这个电路结点，可看到该结点并不是一个单纯的100Ω电阻，并联了一个反向PN结（二极管）。这个反向PN结被100Ω坐标系发现。这是典型的VI曲线y轴测试盲区。1kΩ坐标系只能够发现100Ω电阻，而10kΩ/100kΩ/470kΩ这3种坐标系表现出的都是垂直短路VI曲线，这3条线重合成1条线，连100Ω电阻也没有发现（图17右）。

 

图17  5cVI曲线单独测试克服VI曲线y轴测试盲区（图右）

 

5.5  5cVI曲线对比测试电路结点：

    对比测试电路结点时，在同一个5cVI曲线窗口中会出现10条VI曲线。能够无遗漏检测电路结点故障，不会漏掉结点上的任何变化。无论结点阻抗故障出现在哪个区域，5cVI曲线始终能够保证必然有1对（2条）VI曲线（1种坐标系）处于最高灵敏度。

    例如：在1kΩ坐标系下对比测试两块电路板上相同结点，均表现为一个反向PN结（二极管）VI曲线。两块电路板结点VI曲线完全相同，相对误差仅为0.4%。有些情况下，这不一定只是一个反向PN结（图18左）。而采用5cVI曲线比较，可看到两板上这两个结点都不是一个单纯的反向PN结，各自都并联了一个电容。这是典型的VI曲线x轴测试盲区。在470kΩ坐标系下误差是5.0%，说明两个电容的容值存在差异（图18右）。

 

图18  5cVI曲线对比测试克服VI曲线x轴测试盲区（图右）

 

5.6  5cVI曲线测试电容时的优势：

    5cVI曲线是电压/电流/阻抗3维度VI曲线测试，可直接在5坐标系中清晰呈现容抗。因此会呈现出电容VI曲线圆润美丽的一面，可谓鹰爪也温柔。例如：采用5cVI曲线单独测试0.1µF电解电容，5条VI曲线圆润美丽。普通VI曲线（采用100Ω/1kΩ坐标系），只会呈现水平开路形式VI曲线，出现x轴测试盲区（绿线/白线）。5cVI曲线可消除盲区，10kΩ以上坐标系（黄线/粉线/蓝线）都能看出电容特性。其中：470kΩ坐标系（蓝线）呈现出正圆形VI曲线（图19）。

 

图19  5cVI曲线展现电容的正圆形曲线最佳显示效果

 

5.7  双人同时测试：

    例如：从测试仪VI1端子引出一只VI探针。从VI2端子引出另外一只VI探针。分别从工作模式处和快捷键处各自打开一个VI曲线探棒巡检设置窗口。一个设置为探棒1，另一个设置为探棒2。张工可使用从VI1端子引出的探棒1测试A电路板，注视1号窗口中的5cVI曲线。李工可使用从VI2端子引出的探棒2测试B电路板，注视2号窗口中的5cVI曲线。张工和李工正在同时使用同一台测试仪，各自独立进行5cVI曲线测试。适合于人员较多的检测公司，也适合于师傅带徒弟（图20）。

 

图20  在同一个电脑屏幕中两个人同时各自进行5cVI曲线测试

 

    还可将单窗口5cVI曲线拆分成2窗口。例如：单独测试电路结点，从测试仪VI1端子引出一只VI探针。分别打开2个5cVI曲线窗口。将2窗口都设置为探棒1。在2窗口中分别显示3条VI曲线（阻抗中值100Ω/10kΩ/470kΩ间隔选取）和2条VI曲线（阻抗中值1kΩ/100kΩ间隔选取）。单窗口5cVI曲线拆分成2窗口之后，视觉效果更佳。同理，对比测试电路结点，从测试仪VI1和VI2端子各引出一只VI探针。2窗口都设置为双探针。在2窗口中分别显示6条VI曲线和4条VI曲线，阻抗中值也是间隔选取。

 

6  典型VI曲线图例

    以下采用电脑手绘示意图形式，介绍8组典型VI曲线。本文侧重简述VI曲线测试基本功能，对《ZD4040-N测试仪操作手册》VI曲线测试项大幅删减，故而在VI曲线测试原理和实际操作方面欠缺说明。如果某些图例不好理解，可参考《VI曲线测试盲区问题》一文。

 

[图例1]

图例1左：同参考点短路VI曲线。如果参考点是电路板的地，则表示该点接地。也有可能是VI曲线坐标系选择不当，出现y轴测试盲区。

图例1右：同参考点断路VI曲线。也可能是测试夹具没有接触好测试点，应调整测试夹具。还有可能是VI曲线坐标系选择不当，出现x轴测试盲区。

 

[图例2]

图例2左：电阻VI曲线。阻值正好等于当前窗口坐标系。电阻VI曲线变化范围：处于第1象限和第3象限以及坐标两轴，线端处于正电压/正电流最大值连线和负电压/负电流最大值连线。

图例2右：电容VI曲线。由于交流信号下，电容的电流相位超前电压相位90度。所以对于对称性正弦波和三角波扫描信号来说，一般会形成垂直于坐标两轴的椭圆形或正圆形VI曲线。

 

[图例3]

图例3左：正向PN结VI曲线。反向截止/正向导通特性。

图例3右：稳压二极管VI曲线。PN结VI曲线的线端处于正电压/正电流最大值连线和负电压/负电流最大值连线。

 

[图例4]

图例4左：反向PN结VI曲线。也是典型的数字IC管脚对地的VI曲线。

图例4右：双向PN结VI曲线。也是典型的数字IC管脚对地的VI曲线。

 

[图例5]

图例5左：正向PN结并联一个电阻（阻值正好等于当前窗口坐标系）的VI曲线。

图例5右：正向PN结串联一个电阻（阻值正好等于当前窗口坐标系）的VI曲线。

 

[图例6]

图例6左：双向PN结并联一个电阻（阻值正好等于当前窗口坐标系）的VI曲线。

图例6右：双向PN结串联一个电阻（阻值正好等于当前窗口坐标系）的VI曲线。

 

[图例7]

图例7左：显示效果最佳/测试灵敏度最高的正圆形电容VI曲线，VI曲线内切于正电压/正电流最大值连线和负电压/负电流最大值连线。VI曲线越圆/包围面积越大，并不代表电容容值越大。

图例7右：电容容值越大，VI曲线越趋近y轴。直至变化为一条同参考点短路的VI曲线。反之，电容容值越小，VI曲线越趋近x轴。直至变化为一条同参考点断路的VI曲线。

 

[图例8]

图例8左：数字IC某故障管脚对地VI曲线， PN结反向导通特性明显发生变化。

图例8右：故障电容VI曲线。VI曲线偏离两轴，说明该电容两管脚之间发生漏电。

 

7  结语

    VI曲线测试针对器件管脚阻抗特性测试，无须按照器件功能形式编写测试程序，几乎对所有器件都适用。因此，采用VI曲线测试不但简单，应用灵活，而且适用范围大。由于不用对被测器件施加工作电源，所以测试过程也方便安全。

    VI曲线测试通常需要首先从好电路板或好器件提取信息，作为VI曲线的比较基准。但这也并非是绝对的，很多时候单从一个器件自身VI曲线的形状上就可判断其好坏。

    例如：对数字IC器件而言，各个管脚对地的VI曲线形状具有很强的规律性。再如：数字IC器件各个同性质输入管脚（地址端、数据端等）、模拟运放自身的各个输出管脚、各个同相输入管脚、各个反相输入管脚等对地管脚的VI曲线基本一致。这些规律性VI曲线也是判断器件好坏的重要依据。

    这种普遍适用、简单安全、精确高效、操作灵活的VI曲线测试方式，给电路维修和器件检测带来了巨大惊喜。随着VI曲线测试技术的不断改进，测试效率还会进一步成倍提高。

    但是，VI曲线测试也有局限性，存在一些难点。其一：并非所有器件功能故障都会出现器件管脚阻抗特性改变，因此一些故障无法通过VI曲线测试被发现。其二：VI曲线测试不涉及频率特性，所以对器件动态参数性能差异无法区分辨别。其三：由于数字IC器件各个管脚VI曲线具有趋同特性，无法借助疑难器件型号识别功能识别数字器件型号。其四：不能采用VI曲线测试EEPROM等电擦写程序存储器件，否则容易造成器件程序丢失。其五：VI曲线测试通常需要好坏器件对比测试，许多检测会受到条件限制。另外：对测试结果的人为主观判断因素比较多，也是VI曲线测试的一个应用难点。

    VI曲线测试的局限性是其测试原理所决定的。例如：当某电路板上器件的VI曲线特性无明显规律可循，又没有好电路板可供对比测试，就进入到“测试盲区”；当某故障器件管脚阻抗特性没有发生任何改变，倘若仅以VI曲线测试结论作为检测依据，又会陷入到“测试误区”。这些问题在检测实践中需要加以注意。