正达在线电路维修测试仪软件升级说明-2022

“2022版”正达在线电路维修测试仪软件升级说明

 

 

2022.01版测试软件主要升级内容：

1.存储器完全测试项

2.DA数模转换器/AD模数转换器增加器件库

3.高压接口器件增加24管脚和28管脚MAX205/206/207/208/209/211/213/223/235/236/237/238/239/241等百余种器件库

 

存储器完全测试项说明

数字器件功能测试中，对存储器系列库中器件所做的测试，只是对个别存储单元进行的功能测试，一般只能测试出功能完全损坏的器件，不能测试出只有少部分存储单元失效的器件。对于大容量存储器更是如此。存储器完全测试项，是对存储器所有存储单元逐一进行测试，因此不会漏掉故障器件。

如果了解存储器件在电路中的作用，可只对用作程序存储器的器件做完全测试，而对用作数据存储器尤其是用于存储声音、图像的器件做抽样测试，以节省测试时间。

 

1 存储器完全测试的特点

进入“元器件功能测试”项中的“存储器完全测试”操作。存储器完全测试的基本方法是：向存储器所有存储单元逐一写入一些数据，然后再读回数据。如果读回数据和写入数据一致，则存储器通过完全测试。

特点是：对存储器的所有存储单元毫无遗漏地逐一测试。所以，不同于对普通数字/模拟IC器件瞬间完成功能测试，在对DRAM和SRAM存储器完全测试时，测试小容量存储器全过程时间需要几分钟，大容量存储器通常需要一个小时或几个小时。

 

2 存储器完全测试实例

以对某设备上的大容量KM44C4100AS-6存储器做完全测试为例。

 

2.1动态DRAM存储器KM44C4100AS-6特点：

KM44C4100AS-6是26管脚（其中有3个空脚）表贴封装4位4M动态DRAM存储器（图1）。存储容量较大，故障率较高。

 

图1

 

2.2动态DRAM存储器KM44C4100AS-6的器件放置：

正确连接离线测试板。采用28管脚SOP测试插座。将KM44C4100AS-6有圆点标志的一端朝向SOP测试插座顶端，并沿插座顶端对齐放置。根据测试软件中的“电源提示”，将KM44C4100AS-6器件电源管脚对应的POWER+（正电源）、接地管脚对应的GND（地线）拨码开关打开，并连接测试电源线（图2）。

 

 

图2

 

2.3存储器完全测试软件设置：

①选择测试器件：器件库中可供完全测试的各类DRAM和SRAM存储器共计千余种。此处输入或选择待测器件型号KM44C4100（图3）。

②器件测试频率：通常应选择2000kHz测试频率，以节省测试时间。

③测试模式：支持在线测试和离线测试。

④当前器件测试库：具有+3.3V和+5V两种类型器件库。KM44C4100AS-6为+5V存储器。

⑤测试类别：完全测试（逐个存储单元测试）和抽样测试（部分存储单元测试）2种方式。其中，抽样测试的抽样率为1/4M~1/16。

⑥测试阈值：具有+5V和+3.3V两种类型下的多种测试阈值。

⑦器件有关信息：在“选择测试器件”中输入或选择器件型号后，系统自动提示器件类型/存储容量/起始地址/截止地址等器件信息。例如：KM44C4100AS-6存储器。器件类型：DRAM，存储容量：4M*4（4位4M存储器），起始地址：0，截止地址：3FFFFF（16进制）。

⑧动态存储刷新周期：由于动态DRAM存储器的电容不能长期保持电荷不变，必须定时对各个存储单元执行重读操作，用以保持电荷稳定，这个过程就是动态存储刷新。减小动态存储刷新周期，可相对提高测试速度。

⑨操作提示：提示器件电源/接地管脚信息以及器件放置/测试夹施加等操作方法。

 

图3

 

2.4存储器完全测试过程和结果：

①按“测试”按钮，对KM44C4100AS-6进行完全测试。当前测试单元和测试进度在测试窗口的标题栏上显示（图3左）。

②全部测试结束后，测试结果“本器件功能测试正确”信息，在测试窗口标题栏上显示（图3右）。

③由于KM44C4100AS-6存储容量较大，全过程时间2小时左右。此期间可做其他工作，当存储器测试结束时，系统会发出结束提示音，提示更换器件。一旦被测存储器某存储单元有故障，系统会发出短促报警音，暂停测试。

 

3 存储器完全测试的优势

 

3.1不适合的测试方式：

当需要精确测试DRAM和SRAM存储器功能时，VI曲线测试是不适合的测试方式。实践表明：某个存储单元或某些存储单元故障，存储器管脚阻抗特性通常无变化。采用VI曲线测试无法发现问题，更不可能精确知道是哪一个或哪些存储单元出现故障。

例如，一个故障KM44C4100AS-6存储器和好器件做VI曲线对比测试（图4）。可见，各个管脚VI曲线对比结果完全一致。

 

图4

 

3.2不可靠的测试方式：

当需要精确测试用作程序存储的DRAM和SRAM存储器功能时，抽样测试有时是不可靠的测试方式。实践表明：某个存储单元或某些存储单元故障，而非内部存储单元连续大范围损坏，采用抽样测试方式经常漏掉问题。例如，采用完全测试KM44C4100AS-6时发现的出错地址（图5左）。采用抽样测试方式，这个出错地址通常会被漏掉，从而无法发现问题（图5右）。如果漏掉问题，节省测试时间也变得没有意义。对于用作声音、图像数据存储的存储器，可做抽样测试，节省测试时间。

 

图5

 

 

北京正达时代电子技术有限公司

2022-12-10